產(chǎn)品詳情
Keysight i3070 回收 ICT 系統(tǒng)
歐陽(yáng)R:13537；；229325
E9988GL 在線高密度 ICT 系統(tǒng)；7i 系列
E9988GL Keysight i3070 系列 7i 在線高密度在線測(cè)試 (ICT) 系統(tǒng)將業(yè)界領(lǐng) 的 ICT 技術(shù)引入您的自動(dòng)化生產(chǎn)線，節(jié)省資源并優(yōu)化您的自動(dòng)化測(cè)試策略。
Keysight i3070 系列 7i 在線測(cè)試系統(tǒng) — 助您實(shí)現(xiàn) 的測(cè)試覆蓋率和增強(qiáng)的吞吐量。
7i 系列采用 的四密度針卡，可容納多達(dá) 5760 個(gè)測(cè)試節(jié)點(diǎn)，同時(shí)保持 800 毫米寬的纖薄占地面積。容量增加后，可為復(fù)雜的測(cè)試要求提供更多資源，并可處理更大的面板，同時(shí)節(jié)省電路板處理和傳輸時(shí)間。
請(qǐng)放心，您的投資是安全的，因?yàn)?7i 系列保證與當(dāng)前的 E9988E 和 E9988EL 測(cè)試程序和裝置完全向后兼容。
雙倍測(cè)試節(jié)點(diǎn)：可容納多達(dá) 2 倍的測(cè)試節(jié)點(diǎn)，同時(shí)保持緊湊的占用空間。
集成超級(jí)電容器測(cè)試：通過(guò)可用的集成解決方案輕松測(cè)試高達(dá) 100 法拉 (F) 的超級(jí)電容器。
實(shí)現(xiàn)低電流測(cè)量：實(shí)現(xiàn)低至 100 納安 (nA) 的測(cè)量，簡(jiǎn)化開發(fā)時(shí)間。
加速短路測(cè)試：與傳統(tǒng)方法相比，執(zhí)行增強(qiáng)型短路測(cè)試算法的速度提高 50%。
增強(qiáng)覆蓋范圍：通過(guò)自動(dòng)集群測(cè)試生成提高覆蓋范圍。
方便擴(kuò)展：提供內(nèi)置功能端口，用于擴(kuò)展測(cè)試能力。
克服訪問(wèn)限制：集成 x1149 邊界掃描分析儀來(lái)克服受限的測(cè)試訪問(wèn)。
如欲了解有關(guān) Keysight ICT 系統(tǒng)
歐陽(yáng)R:13537；；229325
E9988GL 在線高密度 ICT 系統(tǒng)；7i 系列
E9988GL Keysight i3070 系列 7i 在線高密度在線測(cè)試 (ICT) 系統(tǒng)將業(yè)界領(lǐng) 的 ICT 技術(shù)引入您的自動(dòng)化生產(chǎn)線，節(jié)省資源并優(yōu)化您的自動(dòng)化測(cè)試策略。
Keysight i3070 系列 7i 在線測(cè)試系統(tǒng) — 助您實(shí)現(xiàn) 的測(cè)試覆蓋率和增強(qiáng)的吞吐量。
7i 系列采用 的四密度針卡，可容納多達(dá) 5760 個(gè)測(cè)試節(jié)點(diǎn)，同時(shí)保持 800 毫米寬的纖薄占地面積。容量增加后，可為復(fù)雜的測(cè)試要求提供更多資源，并可處理更大的面板，同時(shí)節(jié)省電路板處理和傳輸時(shí)間。
請(qǐng)放心，您的投資是安全的，因?yàn)?7i 系列保證與當(dāng)前的 E9988E 和 E9988EL 測(cè)試程序和裝置完全向后兼容。
雙倍測(cè)試節(jié)點(diǎn)：可容納多達(dá) 2 倍的測(cè)試節(jié)點(diǎn)，同時(shí)保持緊湊的占用空間。
集成超級(jí)電容器測(cè)試：通過(guò)可用的集成解決方案輕松測(cè)試高達(dá) 100 法拉 (F) 的超級(jí)電容器。
實(shí)現(xiàn)低電流測(cè)量：實(shí)現(xiàn)低至 100 納安 (nA) 的測(cè)量，簡(jiǎn)化開發(fā)時(shí)間。
加速短路測(cè)試：與傳統(tǒng)方法相比，執(zhí)行增強(qiáng)型短路測(cè)試算法的速度提高 50%。
增強(qiáng)覆蓋范圍：通過(guò)自動(dòng)集群測(cè)試生成提高覆蓋范圍。
方便擴(kuò)展：提供內(nèi)置功能端口，用于擴(kuò)展測(cè)試能力。
克服訪問(wèn)限制：集成 x1149 邊界掃描分析儀來(lái)克服受限的測(cè)試訪問(wèn)。
如欲了解有關(guān) Keysight ICT 系統(tǒng)
